WEKO3
アイテム
走査型プローブ顕微鏡を用いたパワーMOSFETの動作観測とその評価
https://cit.repo.nii.ac.jp/records/2000121
https://cit.repo.nii.ac.jp/records/20001219ec8282a-d167-420f-a998-cc2ee7080363
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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要旨_甲第267号 (507 KB)
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博士論文_甲第267号.pdf (5.5 MB)
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| Item type | 学位論文 / Thesis or Dissertation(1) | |||||||||
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| 公開日 | 2024-12-17 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | 走査型プローブ顕微鏡を用いたパワーMOSFETの動作観測とその評価 Observation and evaluation of power MOSFET operation using a scanning probe microscope |
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| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_db06 | |||||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||||||
| アクセス権 | ||||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||||
| 著者 |
土井, 敦史
× 土井, 敦史
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| 著者（英） | ||||||||||
| 姓名 | DOI, Atsushi | |||||||||
| 学位名 | ||||||||||
| 学位名 | 博士(工学) | |||||||||
| item_10006_degree_grantor_9 | ||||||||||
| 学位授与機関識別子 | 32503 | |||||||||
| 学位授与機関名 | 千葉工業大学 | |||||||||
| item_10006_description_10 | ||||||||||
| 内容記述 | 令和6年度 | |||||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||||
| 学位授与年月日 | 2024-09-17 | |||||||||
| dissertation_number | ||||||||||
| 学位授与番号 | 甲第267号 | |||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||
